Méthodes et outils pour l'analyse tôt dans le flot de conception de la sensibilité aux soft-erreurs des applications et des circuits intégrés
Auteur / Autrice : | Wassim Mansour |
Direction : | Raoul Velazco |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Sciences et technologie industrielles |
Date : | Soutenance le 31/10/2012 |
Etablissement(s) : | Grenoble |
Ecole(s) doctorale(s) : | École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble ; 199.-....) |
Partenaire(s) de recherche : | Equipe de recherche : Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture d'ordinateurs |
Jury : | Président / Présidente : Bernard Courtois |
Examinateurs / Examinatrices : Raoul Velazco | |
Rapporteurs / Rapporteuses : Luis Entrena, Lirida Naviner |
Mots clés
Résumé
La miniaturisation des gravures des transistors résulte en une augmentation de la sensibilité aux soft-erreurs des circuits intégrés face aux particules énergétiques présentes dans l’environnement dans lequel ils opèrent. Une expérimentation, présentée au cours de cette thèse, concernant l'étude de la sensibilité face aux soft-erreurs, dans l'environnement réel, des mémoires SRAM provenant de deux générations de technologies successives, a mis en évidence la criticité de cette thématique. Cela pour montrer la nécessité de l'évaluation des circuits faces aux effets des radiations, surtout les circuits commerciaux qui sont de plus en plus utilisés dans les applications spatiales et avioniques et même dans les hautes altitudes, afin de trouver les méthodologies permettant leurs durcissements. Plusieurs méthodes d'injection de fautes, ayant pour but l'évaluation de la sensibilité des circuits intégrés face aux soft-erreurs, ont été le sujet de plusieurs recherches. Les travaux réalisés au cours de cette thèse ont eu pour but le développement d'une méthode automatisable, avec son outil, permettant l'émulation des effets des radiations sur des circuits dont on dispose de leurs codes HDL. Cette méthode, appelée NETFI (NETlist Fault Injection), est basée sur la manipulation de la netlist du circuit synthétisé pour permettre l'injection de fautes de types SEU, SET et Stuck_at. NETFI a été appliquée sur plusieurs architectures pour étudier ses potentialités ainsi que son efficacité. Une étude sur un algorithme tolérant aux fautes, dit self-convergent, exécuté par un processeur LEON3, a été aussi présenté dans le but d'effectuer une comparaison des résultats issus de NETFI avec ceux issus d'une méthode de l'état de l'art appelée CEU (Code Emulated Upset).