Microscopie multiéchelles : nouvelle platine interférométrique pour un déplacement du nanomètre au millimètre
| Auteur / Autrice : | Hung-Lin Hsieh |
| Direction : | Jyh-Cheng Chen, Ju-Yi Lee, Gilles Lérondel |
| Type : | Thèse de doctorat |
| Discipline(s) : | Optique et nanotechnologies |
| Date : | Soutenance en 2011 |
| Etablissement(s) : | Troyes |
| Ecole(s) doctorale(s) : | École doctorale Sciences pour l'Ingénieur (Troyes, Aube) |
Mots clés
Résumé
Sur la base d’une configuration QCOP en anglais quasi-common-optical-path, une nouvelle plateforme interferométrique pour le déplacement à grande échelle a été développée. La platefome inclut un interféromètre QCOP et une platine à deux étages. L’interféromètre QCOP se compose d’une source, hétérodyne, un réseau holographique bidimensionnel, deux lames ¼ d’onde et une détection synchrone. Deux configurations QCOP, normale et différentielle ont été développées. La méthode différentielle permet une sensibilité et résolution accrues. Les performances de l’interféromètre QCOP ont été testées pour contrôler le déplacement à 1 ou 2D et ont été systématiquement comparées avec d’autres types de systèmes de mesure ; capteur capacitif, jauge de contrainte, encodeur et interféromètre linéaires. Les résultats expérimentaux montrent que le système de mesure par interférométrie QCOP permet de mesurer des déplacements de grande course à 1D ou 2D tout en étant peu sensible aux perturbations externes. Un système de déplacement pas à pas micronique à l’aide d’une platine piézoélectrique de type leaf-spring a également été développée pour le déplacement à 1 et 2D. En combinant le système de mesure par interférométrie QCOP et une platine de positionnement à deux étages, nous avons démontré qu’il était possible d’atteindre une résolution nanométrique sur une excursion millimétrique avec un système peu sensible aux perturbations externes. Cela ouvre la voie pour de nombreuses applications nécessitant à la fois résolution et grand course de déplacement