Thèse soutenue

Contribution à la conception et à l'évaluation de circuits BIST pour application RF intégrées

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Auteur / Autrice : Bilal El Kassir
Direction : Bernard JarryMichel Campovecchio
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Electronique des Hautes Fréquences, Photonique et Systèmes
Date : Soutenance en 2011
Etablissement(s) : Limoges
Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale Sciences et ingénierie pour l'information, mathématiques (Limoges2009-2018)
Partenaire(s) de recherche : Laboratoire : XLIM
autre partenaire : Université de Limoges. Faculté des sciences et techniques
Jury : Président / Présidente : Philippe Descamps
Rapporteurs / Rapporteuses : Jerzy Dabrowski, Salvador Mir

Mots clés

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Mots clés contrôlés

Résumé

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Dans cette thèse, des solutions de DFT (Design For Test) et de BIST (Built In Self Test) pour différentes applications RF ont été étudiées. L'analyse et la comparaison de ces différentes solutions à l'ordre de performances des tests, de la complexité des circuits utilisés et le facteur d'intégration ont guidé la direction de l'étude et de la conception de cette contribution. Des circuits BIST utilisant des détecteurs MOS et Bipolaires ont été conçus pour les applications suivantes : mesure de l'EVM en utilisant un DSP (approche de conception); mesure des paramètres de LNA sur la puce (gain IP3, IMx, etc. . . ); un étalonnage des oscillateurs intégrés (VCO à PLL). Pour la mesure de l'EVM, l'utilisation de la technique BIST proposée, a démontré une réduction de la durée du test (par un facteur 1000) ainsi qu'une mise en oeuvre facile. Les limites observées de cette technique sont liées aux défis de mesure EVM BIST en raison de l'existence d'une zone aveugle pour la détection efficace. En ce qui concerne l'application de LNA, les solutions proposées ont démontré un temps de test relativement faible (estimé de - 20 %), un faible coût et une facilité de mise en oeuvre de la procédure de test. La conception de la solution BIST pour la caractérisation de circuit LNA a été développée sur la base d'une implémentation sur puce. Les principales limitations concernent la nécessité d'une surface supplémentaire de silicium, ce qui augmente la consommation et les couplages parasites. L'application de solutions BIST pour commander les oscillateurs intégrés a des avantages liés à la stabilisation de la performance de bruit indépendamment de la variation de processus, de puissance et de température. Toutefois, ces solutions de contrôle induisent une augmentation de la consommation globale du circuit et une dégradation jusqu'à 4 dBc/Hz de bruit de phase donc une dégradation de la qualité du spectre de signal critique (VCO, PLL).