Transport properties and low-frequency noise in low-dimensional structures
Auteur / Autrice : | Do Young Jang |
Direction : | Laurent Montès, Gérard Ghibaudo |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Sciences et technologie industrielles |
Date : | Soutenance le 05/12/2011 |
Etablissement(s) : | Grenoble en cotutelle avec 239 - Korea University |
Ecole(s) doctorale(s) : | École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble ; 199.-....) |
Partenaire(s) de recherche : | Equipe de recherche : Institut de la Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique |
Jury : | Président / Présidente : Mireille Mouis |
Examinateurs / Examinatrices : Laurent Montès, Gérard Ghibaudo, Gyu tae Kim, Iran Siqueira lima, Luis paulo Lopes favero, Pierre eymard Biron | |
Rapporteurs / Rapporteuses : Jong-wan Jung, Jong-tae Park, Bruce h. Krogh |
Résumé
Les propriétés électriques et physiques de structures à faible dimensionalité ont été étudiées pour des applications dans des domaines divers comme l’électronique, les capteurs. La mesure du bruit bruit à basse fréquence est un outil très utile pour obtenir des informations relatives à la dynamique des porteurs, au piègeage des charges ou aux mécanismes de collision. Dans cette thèse, le transport électronique et le bruit basse fréquence mesurés dans des structures à faible dimensionnalité comme les dispositifs multi-grilles (FinFET, JLT…), les nanofils 3D en Si/SiGe, les nanotubes de carbone ou à base de graphène sont présentés. Pour les approches « top-down » et « bottom-up », l’impact du bruit est analysé en fonction de la dimensionalité, du type de conduction (volume vs surface), de la contrainte mécanique et de la présence de jonction metal-semiconducteur.