Auteur / Autrice : | Jean Carlos Da Conceicao Lorenzzi |
Direction : | Gabriel Ferro, Davy Carole |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Matériaux |
Date : | Soutenance le 18/10/2010 |
Etablissement(s) : | Lyon 1 |
Ecole(s) doctorale(s) : | Ecole Doctorale Matériaux de Lyon (Villeurbanne) |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : Laboratoire des Multimatériaux et Interfaces (1995-....) |
Jury : | Président / Présidente : Efstathios Polychroniadis |
Examinateurs / Examinatrices : Philippe Miele, Bruno Daudin | |
Rapporteurs / Rapporteuses : Didier Chaussende, Alix Gicquel |
Mots clés
Résumé
L'utilisation récente d'une voie originale de croissance cristalline basée sur les mécanismes vapeur-liquide-solide (VLS) à partir d'un bain Ge-Si a permis des améliorations importantes de la qualité cristalline des couches minces hétéroépitaxiales de SiC-3C sur substrats sur substrat α-SiC(0001). Ce travail a pour but d'approfondir les connaissances sur cette technique de croissance, d'améliorer le procédé et de déterminer les propriétés du matériau élaboré. La première partie est dédiée à la compréhension et la maîtrise des différents mécanismes impliqués dans la croissance de SiC-3C par VLS. Cela a notamment permis la détermination des paramètres limitant la taille des échantillons et la démonstration des avantages à utiliser des alliages fondus contant 50 at% de Ge au lieu de 75 at%. Une étude de la croissance latérale sur substrats patternés a donné des indications intéressantes pouvant être intégrées dans le modèle d'élimination des macles. L'incorporation intentionnelle et non intentionnelle de dopants de type n et p pendant la croissance VLS a été suivie. Pour le dopage n, nous avons démontré l'existence d'un lien clair entre l'impureté N et la stabilisation du polytype SiC-3C. En outre, nous avons réussi à abaisser le dopage résiduel n des couches en dessous de 1x1017 cm-3. Pour le dopage p, le meilleur élément n'est pas le Ga mais l'Al, même s'il doit être ajouté à un alliage de type Si-Ge pour éviter l'homoépitaxie. Enfin, ces couches ont été caractérisées optiquement et électriquement par différentes techniques. Les mesures C-V et G-V ont permis d'estimer une concentration très faible (7×109 cm-2) de charges fixes dans l'oxyde SiO2 ainsi qu'une densité d'états d'interface aussi basse que 1.2×1010 cm-2eV-1 à 0.63 eV sous la bande de conduction. Ces valeurs record sont une très bonne base pour le développement d'un composant de type MOSFET en SiC-3C