Modélisation de l’immunité des circuits intègres complexes aux perturbations électromagnétiques

• Auteur / Autrice : Jean-Baptiste Gros
• Direction : Geneviève Duchamp, Jean-Luc Levant
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Electronique
• Date : Soutenance le 03/12/2010
• Etablissement(s) : Bordeaux 1
• Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale des sciences physiques et de l’ingénieur (Talence, Gironde)
• Partenaire(s) de recherche : Laboratoire : Laboratoire de l'intégration du matériau au système (Talence, Gironde)
• Jury : Examinateurs / Examinatrices : Hélène Fremont, Eric Woirgard, M. c. Marot
• Jury : Rapporteurs / Rapporteuses : Philippe Besnier, Étienne Sicard

Mots clés

Mots clés contrôlés

Brouillage électromagnétique

Circuits intégrés

Mots clés libres

Cem

Immunité

Circuits intégrés

Modélisation

Emc

Immunity

Integrated Circuits

Model

Résumé

L'objectif de cette thèse est l'étude de l'immunité des circuits intégrés complexes face aux perturbations électromagnétiques. Le début est consacré à la présentation de la compatibilité électromagnétique des circuits intégrés. Une présentation des moyens de maîtrise de la CEM est ensuite donnée. Les principaux thèmes que sont la modélisation, l’optimisation et la mesure sont exposés. L'étude se poursuit par l'établissement d'une méthodologie de construction d'un modèle d'immunité appliquée à un circuit convertisseur. Cette méthodologie s’inspire de la proposition de norme ICIM-CI pour bâtir successivement les différents blocs du modèle d’immunité. Une attention particulière est donnée à la modélisation du mécanisme de défaillance, celui-ci permettant d’obtenir les résultats d’immunité. Les résultats fournis par le modèle sont ensuite comparés puis validés par des mesures sur circuit. Enfin des études complémentaires, portant sur des circuits plus complexes, permettent de proposer des améliorations et perspectives nouvelles pour la démarche de modélisation.

The main objective of this thesis is the study of integrated circuits immunity against electromagnetic interference. The beginning is devoted to the presentation of the electromagnetic compatibility of integrated circuits. The tools enable the mastery of EMC are then presented. The main themes of modelling, optimization and measurement are exposed. The study continues by establishing a methodology for building a model of immunity applied to a converter circuit. This methodology is based on the proposed standard ICIM-CI to build successively the different blocks of the model of immunity. A particular attention is given to the description of the failure mechanism because it leads to the final results of immunity. The results from the model are then compared and validated by measurements on the circuit. Finally further studies on more complex circuits can suggest improvements and new perspectives for the modelling approach.