Thèse soutenue

Analyse de la fiabilité à long terme de transistors bipolaires soumis à de faibles contraintes

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Auteur / Autrice : Antonin Crosson
Direction : Laurent Escotte
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Conception des circuits microélectroniques et microsystèmes
Date : Soutenance en 2009
Etablissement(s) : Toulouse 3

Résumé

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Aujourd’hui l’industrie microélectronique est en perpétuelle évolution. Les performances exigées font que la durée de vie commerciale des composants est de plus en plus courte. Dans ce contexte économique particulier, il existe cependant des industries rencontrant des difficultés face à ce phénomène. En effet, les secteurs d’activité de l’énergie et du spatial, notamment, sont demandeurs d’une fiabilité de leur parc électronique de l’ordre de 20 à 30 années. EDF R&D fait partie de ceux-là et rencontre des problèmes liés à son parc de composants électroniques. Ayant remarqué des dérives sur certains de leurs composants et ne sachant pas d’où celles-ci provenaient, une étude a été lancé sur l’aspect fiabilité à long terme en utilisation de la filière bipolaire. Il s’agit de transistors bipolaires ayant servi de nombreuses années. Grâce à une méthodologie de test, en statique, dynamique et bruit basse fréquence, nous avons réussi à identifier les composants présentant des dérives. Des modélisations ont été effectuées permettant d’identifier les causes possibles de ces dégradations. Par ailleurs, cela nous a permis d’estimer la durée de vie résiduelle de ces transistors bipolaires. Enfin, nous avons comparé les durées de vie de la filière bipolaire et MOS nanométrique.