Thèse soutenue

Contribution à l’alignement complet des systèmes d’information techniques

FR  |  
EN
Auteur / Autrice : Oscar Javier Avila Cifuentes
Direction : Bernard Keith
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Ingénierie et Technologie. Sciences et Technologies Industrielles
Date : Soutenance en 2009
Etablissement(s) : Strasbourg

Mots clés

FR

Mots clés contrôlés

Résumé

FR  |  
EN

Le contexte industriel actuel est caractérisé par l’incertitude et la complexité de ses évolutions. Dans ce contexte les entreprises doivent s’adapter en interne, aux contraintes externes. Ces changements internes touchent plusieurs niveaux de l’organisation : les niveaux stratégique, organisationnel et informationnel. Les changements qui affectent le système d’information (SI), sont traités dans le cadre de l’alignement des SI. Les différents travaux dans ce domaine s'attachent principalement à l'alignement stratégique « interne » à l'organisation. Cependant, pour faire face aux incertitudes et à la complexité de l’environnement externe, il est nécessaire d'y ajouter deux points de vue complémentaires : l’alignement avec l’environnement et l’alignement avec les évolutions. Pour les SI dits techniques (support aux activités de conception et de production), ces trois points de vue d’alignement prennent une forme spécifique. L’objectif de nos travaux est de proposer une approche contribuant à l’alignement « complet » de ce type de SI. Nous proposons un cadre d’analyse pour évaluer les approches d’alignement existantes, en termes de points de vue d’alignement traités. Cette évaluation montre que l’alignement complet n’est pas supporté dans son intégralité par les approches existantes. Sur la base de cette analyse, l’adaptation et l'opérationalisation du Modèle d’Alignement Stratégique (SAM) étendu et du Modèle « multi-écrans » sont proposées. Ainsi, nous proposons d'étendre le SAM originel en y ajoutant les domaines d’application spécifiques des SI Techniques et en définissant de nouvelles séquences d’alignement potentielles. Pour le modèle « multi-écrans », ses concepts formalisés, et des mécanismes d’évolution permettant la construction des séquences d’évolution sont proposés. Afin d’assurer un alignement complet des SI techniques, un couplage des deux modèles SAM étendu et « multi-écrans » est préconisé. Enfin, nous complétons ces modèles par une démarche d’alignement minimale qui exploite les propositions faites dans ce travail. La mise en oeuvre de l’approche et des modèles préconisés est illustrée sur un cas d’étude industriel.