Spin-dependent hot electron transport and nanoscale magnetic imaging of metal/silicon structures
Auteur / Autrice : | Andreas Kaidatzis |
Direction : | André Thiaville |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Physique |
Date : | Soutenance en 2008 |
Etablissement(s) : | Paris 11 |
Partenaire(s) de recherche : | Autre partenaire : Université de Paris-Sud. Faculté des sciences d'Orsay (Essonne) |
Mots clés
Mots clés contrôlés
Résumé
Nous étudions expérimentalement le transport dépendant du spin d’électrons chauds dans des multicouches (MC) magnétiques, qui contiennent des couches uniques magnétiques, ou des tricouches de type « vannes de spin » (VS). Pour cela, nous avons mis en œuvre la microscopie à émission d’électrons balistiques (BEEM), une extension à trois contacts de la microscopie à effet tunnel sur des structures métal/semiconducteur. La méthode mise au point pour satisfaire les nombreuses contraintes imposées par le BEEM sur les échantillons est décrite en détail. La transmission des électrons chauds dans des MC a été systématiquement mesurée dans la gamme d’énergie 1-2 eV au dessus du niveau de Fermi. De l’étude en fonction des épaisseurs des couches magnétiques nous avons déduit les longueurs d’atténuation des électrons chauds en fonction du spin et de l’énergie. Ces mesures, sur le cobalt et l’alliage doux NiFe, sont comparées à des calculs et résultats expérimentaux de la littérature. Pour des épaisseurs inférieures à la monocouche atomique, une organisation spatialement hétérogène a été observée, avec un effet très important sur la transmission BEEM, variant sur une échelle sub-nanométrique. En mode imagerie, nous avons étudié les configurations magnétiques de VS, en particulier des parois à 360° dans des couches de cobalt. Les effets de l’intensité et la direction du champ appliqué sur la structure de ces parois ont été observés. Ces résultats ont été comparés quantitativement à des calculs micromagnétiques, avec un accord excellent. Ceci a permis de montrer que la résolution magnétique de BEEM est meilleure que 50 nm.