Caractérisation et modélisation de la susceptibilité conduite des circuits intégrés aux perturbations électromagnétiques

Characterization and Modelling of the integrated circuit susceptibility to conducted electromagnetic disturbances

• Auteur / Autrice : Imad Chahine
• Direction : Belahcene Mazari
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Électronique
• Date : Soutenance en 2007
• Etablissement(s) : Rouen

Mots clés

Mots clés contrôlés

Réseaux neuronaux (informatique)

Mots clés libres

Té de polarisation

Décharges électrostatiques

Simulation électrique

Résumé

Le travail présenté dans ce mémoire porte sur l’étude de la susceptibilité conduite des circuits intégrés. La première partie du travail concerne la mise en place de deux bancs de mesure basés notamment sur les techniques de caractérisation usuelles adoptées par les standards d’immunité. Dans un premier temps, le document propose un nouveau système d’injection qui constitue une solution alternative et originale aux systèmes d’injections classiques recommandés par la norme IEC 62132-4 connue également sous l’appellation courante DPI (méthode d’injection directe de puissance). Par la suite, le document présente une nouvelle technique d’injection pour caractériser la susceptibilité des circuits intégrés vis-à-vis des décharges électrostatiques. La deuxième partie du travail consiste à établir un modèle de susceptibilité facilement exploitable et qui permet de reproduire fidèlement les mesures. Ce modèle a été construit à partir d’une approche mathématique basée sur les réseaux de neurones. L’expression mathématique résultante de la simulation du réseau de neurone exprime la susceptibilité du circuit et elle est facilement intégrable dans des logiciels de simulation électrique de type ADS ou Pspice pour alimenter les plateformes de simulation.

The aim of this work is the characterization and modelling of integrated circuits susceptibility to conducted electromagnetic disturbances. The work has been carried out into main parts: the first part dealt with the re-use of immunity standards in order to characterize the integrated circuits susceptibility to continuous wave or electrostatic discharge disturbances. In this part, we present an alternative solution for typical injection setups usually recommended by the IEC 62132-4 standard. This solution aims to couple a radiofrequency disturbance to a DC or a low frequency signal. Also in this part, we introduce a new methodology for better characterizing the immunity of complex digital circuits to electrostatic discharge. The second part discussed a new methodology for modelling the susceptibility of integrated circuits to continuous wave disturbance such as a sinewave by using a neural network approach. The model is extracted as a mathematical expression and can be implemented in software tools such as ADS or Pspice.