Thèse soutenue

Contribution à la microanalyse X des revêtements superficiels. Application aux biomatériaux

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Auteur / Autrice : Nicolas Dumelié
Direction : Hicham BenhayouneGérard Balossier
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Physique
Date : Soutenance en 2006
Etablissement(s) : Reims

Résumé

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L’objet de l’étude concerne la caractérisation physico-chimique des revêtements superficiels par microanalyse x et son application a l’étude des revêtements prothétiques phosphocalciques. Nous avons étudies les mécanismes de formation des phosphates de calcium par electrodeposition. Nous avons vérifie les hypothèses avancées par une étude portant sur l’influence de la densité de courant sur les phosphates de calcium électrodéposés. Pour caractériser ces revêtements, nous avons développé une méthodologie en microanalyse x basée sur la complémentarité de la microscopie électronique a balayage et de la microscopie électronique a balayage transmission. Par la suite, nous nous sommes intéressés aux cartographies quantitatives des films minces sur substrats. Nous avons illustre l’impact de l’hétérogénéité du substrat sur la quantification des films minces ; puis, nous avons présente TF_Quantif, l’algorithme de quantification (concentrations et épaisseurs) que nous préconisons pour s’affranchir de ces problèmes. Nous avons aussi mené une étude théorique pour déterminer les limites d’application de TF_Quantif. Enfin, nous avons présenté les développements logiciels et instrumentaux nécessaires a l’utilisation de TF_Quantif et nous avons effectue des profils et cartographies quantitatifs sur des films minces (de composition et d’épaisseur connue) sur substrats hétérogènes ainsi que sur un revêtement de phosphate de calcium. Les résultats ont été compares avec ceux obtenus par un logiciel de quantification que nous avons développé a partir du logiciel commercial STRATAGem (SAMx, France).