Réduction de puissance durant le test par scan des circuits intégrés
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Auteur / Autrice : | Nabil Badereddine |
Direction : | Patrick Girard |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Automatique, traitement du signal et génie informatique |
Date : | Soutenance en 2006 |
Etablissement(s) : | Montpellier 2 |
Mots clés
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