Thèse soutenue

Réduction de puissance durant le test par scan des circuits intégrés
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Auteur / Autrice : Nabil Badereddine
Direction : Patrick Girard
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Automatique, traitement du signal et génie informatique
Date : Soutenance en 2006
Etablissement(s) : Montpellier 2

Mots clés

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