Contribution à la caractérisation de composants diffractifs réalisés sur des matériaux de type polypeptide : Application aux mémoires diffractives

Contribution to the characterization of diffractives components realized on materials of polypeptide type : Application to diffractives memories

• Auteur / Autrice : Lhassan Elouad
• Direction : Patrick Meyrueis
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Physique. Optique physique. Photonique
• Date : Soutenance en 2004
• Etablissement(s) : Université Louis Pasteur (Strasbourg) (1971-2008)

Mots clés

Mots clés contrôlés

Holographie

Diffraction

Couches minces

Mots clés libres

Matériaux photosensibles

Résumé

La caractérisation des couches minces transparentes et des composants diffractifs de phase a une grande importance scientifique et technologique. Au cours de ce travail, et à partir des contraintes posées, nous avons proposé une méthode non destructive et non complexe qui peut être utilisée à la fois pour la caractérisation des couches vierges ou des structures diffractives sur les photopolypeptides. Cette méthode de résonance des couches minces permet la mesure des paramètres optiques à partir des variations de la réflectivité en fonction de l'angle d'incidence. En améliorant son principe, en réduisant ses erreurs, et en développant les programmes d'auto-étalonnage et de mesures sous LABVIEW. Les résultats obtenus sur des étalons par cette méthode sont tous à fait en accord avec ceux qui nous ont été fourni par leurs constructeurs. Cette méthode a été utilisée également pour la caractérisation des structures diffractives de polypeptide, l'accord des résultats obtenus avec des mesures de leur efficacité de diffraction ont confirmé son utilisation. Parmi les avantages de la méthode proposée, outre sa facilité de mis en œuvre, son étendue de mesure, elle permet aussi la caractérisation des couches ayant un indice de réfraction proche de celui du substrat '' comme le cas des couches de photopolypeptide après développement '', ceci aurait été très difficile par les méthodes connues : interférentielles, spectroscopiques, ou ellipsomètriques.

The optical characterization of transparent thin layers and diffractive phase components has a great scientific and technological importance. Starting from constraints, we propose a nondestructive and simple method which can be used for the characterization of the plain layers and for the same with diffractive structure of photopolypeptides. This method is named resonance of thin layers allows to the measurement of the optical parameters resulting from the local variations of the reflectivity according to the angle of incidence. By improving basic principle, by reducing errors, and by developing calibration programs of measurement process under LABVIEW. The results obtained on standards by this method are in agreement with those which were provided by their manufacturers. The method is then used for the characterization of the diffractive polypeptide layers. The agreement of the results obtained with measurements of diffraction efficiency confirms its power. The proposed method allows the characterization of the layers having an index of refraction close to that of the substrate '' like the case of the photopolypeptide layers after development '', this would have been very difficult by the known methods: interferential, spectroscopic, ellipsometric.