Thèse soutenue

Caractérisation spectroscopique du niobate de lithium sous forme de cristaux massifs et de guides d'onde

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Auteur / Autrice : Yun Zhang
Direction : Patrice BoursonLaurent Guilbert
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Physique
Date : Soutenance en 2004
Etablissement(s) : Metz
Partenaire(s) de recherche : Laboratoire : LMOPS - Laboratoire Matériaux Optiques, Photoniques et Systèmes (Metz)

Mots clés

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Résumé

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Le niobate de lithium LN est, de par sa large fenêtre transparence et ses grands coefficients électro-optique et optique non linéaire, l'un des matériaux dilélectriques les plus intéressants pour leurs applications en optiques intégrée. Notre étude porte sur la caractérisation de cristaux LN massifs et de guides d'onde par spectroscopie Raman (SR) et luminescence polaron (LP). Dans sa composition congruente, LN présente des défauts ponctuels de plusieurs espèces. Leur concentration dépend de la composition du cristal. Nous avons étudié en particulier des cristaux de composition sous congruente et prolongé la loi linéaire qui relie les largeurs de certaines raies Raman à la composition. Cette loi nous permet de mesurer finement l'exodiffusion du lithium dans les guides diffusé titane. LP est observée sous forme d'une bande large vers 800nm. L'intensité de LP mesure directement le degré de réduction chimique du matériau. Nous avons également montré la relation qui existe entre la luminescence et l'intensité incidente et l'existence d'une valeur de saturation. Cette luminescence a été étudiée dans des cristaux massifs purs, oxydés et réduits, ou dopés et des guides d'onde. Nous avons défini les protocoles de caractérisation et ces mesures permettent de déterminer la carte de réduction chimique en section d'un guide LN:Ti à partir de la carte de luminescence. Nous avons enfin étendu la méthode aux structures périodiquement polarisées PPLN. Nous avons montré que les micro-spectroscopies SR et LP sont des méthodes non destructives, efficaces et fiables pour caractériser les guides d'ondes et les PPLN à l'échelle du micromètre