Microscopie magnétique pour localisation de défaillance de circuits intégrés

• Auteur / Autrice : Olivier Crépel
• Direction : Philippe Descamps, Christophe Goupil
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Électronique et micro-électronique
• Date : Soutenance en 2004
• Etablissement(s) : Caen

Mots clés

Mots clés contrôlés

Induction magnétique

Circuits intégrés

Microélectronique

Semiconducteurs

Induction électromagnétique

Résumé

Cette thèse est consacrée à l'étude et à l'évaluation d'une technique novatrice de localisation de défaillances des circuits intégrés , la microscopie magnétique. Cette technique consiste à mesurer l'induction magnétique générée par un circuit en fonctionnement afin d'obtenir une cartographie des densités de courants. Elle est absolument non destructive pour le circuit et permet de l'analyser sans avoir recours obligatoirement aux étapes de préparation et d'ouverture de boîtier. Ce manuscrit rappelle les principales sources de défaillances des circuits électroniques, puis présente sur un plan théorique les principes fondamentaux de la technique. Elle se consacre également à présenter les différents éléments utilisés dans un système de microscopie magnétique. Le sujet de thèse étant orienté vers l'applicatif, une importante partie de cette thèse est consacrée à l'analyse de circuits électroniques avec la microscopie magnétique.