Etude et amélioration de la fiabilité des composants dédiés aux technologies bipolaire/CMOS/DMOS moyenne tension
FR
Auteur / Autrice : | Yannick Rey-Tauriac |
Direction : | Olivier Bonnaud |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Électronique |
Date : | Soutenance en 2003 |
Etablissement(s) : | Rennes 1 |