Application des modèles de transition d'échelle à la détermination des contraintes internes par diffraction des rayons X, cas des matériaux biphasés

• Auteur / Autrice : Sylvain Freour
• Direction : Manuel François, Ronald Guillén
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Science des matériaux
• Date : Soutenance en 2003
• Etablissement(s) : Nantes
• Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale sciences et technologies de l'information et des matériaux (Nantes)

Mots clés

Mots clés contrôlés

Contraintes résiduelles

Rayons X -- Diffraction

Polycristaux

Résumé

Les matériaux biphasés présentent des hétérogénéités de comportement élastique, thermique et plastique à l'échelle de la phase et des cristallites. Ces propriétés influent sur l'apparition et le développement des contraintes internes. L'identification des lois de comportement des phases est nécessaire pour dimensionner une structure composée à partir de ces matériaux. Des méthodes originales ont été proposées, afin d'estimer les constantes d'élasticité et de dilatation thermique d'une des phases d'un système multiphasé. La démarche repose sur un couplage de résultats expérimentaux avec des modèles de transition d'échelle. Les propriétés de la phase β du Ti-17 ont ainsi été caractérisées. Les constantes d'élasticité du monocristal de cette phase ont notamment pu être déterminées, à partir de la mesure d'une des Constantes Élastiques Radiocristallographiques (CER) du plan {310} à l'aide de la diffraction des rayons X et d'une inversion des expressions analytiques établies pour cette CER dans le cadre d'un modèle autocohérent élastique biphasé. . .