Etude des propriétés optoélectroniques et de transport dans les hétérostructures AlGaN/GaN pour la réalisation de détecteurs UV
Auteur / Autrice : | Jean-Luc Reverchon |
Direction : | Jean-Yves Duboz |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Physique |
Date : | Soutenance en 2001 |
Etablissement(s) : | Paris 11 |
Mots clés
Mots clés contrôlés
Mots clés libres
Résumé
L'objet de cette thèse est l'étude des hétérostructures GaN/(Al,Ga)N afin de réaliser des détecteurs UV. Les difficultés de croissance ainsi que les propriétés fondamentales du matériau sont présentées dans le chapitre 1 de manière à constituer les outils de conception des dispositifs à réaliser. Au chapitre 2, les problèmes de fluctuation d'alliage et de localisation de porteurs dans les alliages ternaires (Ga,In)N et (Al,Ga)N sont abordés. Le rôle du champ éléctrique dans les puits et les limites constituées par les fluctuations statistiques d'alliage sont alors mis en évidence. Un modèle permettant d'expliquer certains comportements non idéaux comme l'absorption sous le gap et sa non-linéarité par rapport au flux incident est également élaboré. Enfin les effets photopersistants dans les structures typiques de transistors à effet de champ sont étudiées. Les deux derniers chapitres concernent l'étude de démonstrateurs. . .