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Caractérisation et modélisation des transistors MOS sur substrat SOI pour des applications micro-ondes

par Alexandre Bracale

Thèse de doctorat en Électronique

Sous la direction de Jean-Luc Gautier.

Soutenue en 2001

à Paris 6 .

  • Titre traduit

    Nos transistors on soi substrate characterization and modeling for microwawe applications


  • Pas de résumé disponible.

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La version de soutenance existe sous forme papier

Informations

  • Détails : 1 vol., [I] -206 p.
  • Notes : Publication autorisée par le jury
  • Annexes : Bibliogr. en fin de chapitres

Où se trouve cette thèse\u00a0?

  • Bibliothèque : Sorbonne Université. Bibliothèque de Sorbonne Université. Bibliothèque Biologie-Chimie-Physique Recherche.
  • Consultable sur place dans l'établissement demandeur
  • Cote : T Paris 6 2001 35
  • Bibliothèque : Centre Technique du Livre de l'Enseignement supérieur (Marne-la-Vallée, Seine-et-Marne).
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : PMC RT P6 2001

Cette version existe également sous forme de microfiche :

  • Bibliothèque : Université Grenoble Alpes (Saint-Martin d'Hères, Isère). Bibliothèque et Appui à la Science Ouverte. Bibliothèque universitaire Joseph-Fourier.
  • Non disponible pour le PEB
  • Cote : MF-2001-BRA
  • Bibliothèque : Université Paris-Est Créteil Val de Marne. Service commun de la documentation. Section multidisciplinaire.
  • PEB soumis à condition
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