Etude des mecanismes de degradations des composants electroniques et des cartes equipees au cours d'un stockage de longue duree

• Auteur / Autrice : OLIVIER MAIRE
• Direction : Jean Debuigne
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Sciences et techniques
• Date : Soutenance en 2001
• Etablissement(s) : Rennes, INSA

Résumé

En raison des durees de vie des produits, dans les industries militaires, aeronautiques et spatiales, de leur maintenance et de l'obsolescence croissante des composants electroniques commerciaux, ceux-ci peuvent etre amenes a etre stockes pour des durees de 10 a 30 ans. L'objectif de cette etude est de definir et d'analyser les mecanismes potentiels de degradation des composants electroniques et des cartes equipees soumis a un stockage de longue duree. Lors du stockage des composants electroniques, les principales contraintes sont environnementales. La tenue des composants au mecanisme de corrosion interne a ete etudiee par le passe et a montre qu'elle etait negligeable au cours du stockage. En revanche, des degradations au niveau du boitier et des broches du composant peuvent se produire. Des essais experimentaux de vieillissement accelere et des simulations numeriques ont ete realises afin d'evaluer les evolutions des materiaux d'enrobage plastique des composants, d'analyser les degradations au niveau des broches des composants et d'etudier l'influence de ces evolutions sur le report et la fiabilite des assemblages. Les essais menes ont permis de montrer que les proprietes des materiaux d'enrobage changent dans le temps sans toutefois entrainer de degradation fonctionnelle. Les proprietes de brasabilite des revetements des broches se degradent en presence d'une contamination externe (manipulation, environnement, etc. ), mais aussi par la croissance de composes intermetalliques. Ces derniers ne doivent toutefois pas entrainer de perte de mouillabilite sur des durees de 10 a 20 ans. Ces evolutions au niveau des broches influencent la tenue des joints brases apres report. A l'aide des outils numeriques et de modeles de fiabilite, des previsions de tenue dans le temps ont enfin ete etablies.