Thèse soutenue

Caractérisation structurale des contacts ohmiques réalisés à partir d'encres métalliques sur cellules photovoltaïques en silicium multicristallin
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Auteur / Autrice : Bruno Thuillier
Direction : André Laugier
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Génie des Matériaux
Date : Soutenance en 2001
Etablissement(s) : Lyon, INSA
Ecole(s) doctorale(s) : Ecole Doctorale Matériaux de Lyon (Villeurbanne)
Partenaire(s) de recherche : Laboratoire : LPM - Laboratoire de Physique de la Matière

Mots clés

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Mots clés contrôlés

Résumé

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Ce travail a pour but l'étude des contacts ohmiques réalisés, à partir d'encres métalliques, par sérigraphie sur les cellules solaires en silicium multicristallin. Cette étude a porté sur les contacts dans leur volume mais également sur l'interface qu'ils créent avec le silicium. Le cœur de l'étude est une caractérisation structurale des contacts avants et arrières par microscopie électrique en transmission entre chaque étape de leur processus industriel d'élaboration. Cette première partie a permis de mettre en évidence une incompatibilité entre la pâte de la face avant et le traitement appliqué. Un second travail a consisté en l'étude de la faisabilité d'une reprise de soudure en surface des contacts par dépôt électroless. Les résultats énoncés ont été obtenus avec des solutions de cuivre et de nickel. En dernier lieu, nous avons étudié la formation d'un champ arrière en fonction de la composition de la pâte déposée et du traitement thermique appliqué. L'objectif est de diminuer les recombinaisons des porteurs minoritaires dans le cas de la réduction d'épaisseur du semi-conducteur.