Test en ligne des systèmes digitaux linéaires

• Auteur / Autrice : Ahmad Abdelhay
• Direction : Michael Nicolaïdis, Emmanuel Simeu
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Microélectronique
• Date : Soutenance en 2001
• Etablissement(s) : Grenoble INPG

Mots clés

Mots clés libres

Sciences et techniques

Electronique

Circuit numerique

Circuit lineaire

Detection defaut

En ligne

Redondance

Diagnostic panne

Conception circuit

Résumé

Les systemes digitaux lineaires representent une classe importante des circuits utilises dans nombreuses applications critiques. Pour cela, le probleme du test en ligne des systemes digitaux lineaires est tres important car une erreur de donnees, pendant la periode de fonctionnement normal, peut entrainer de graves consequences. L'objet de ce travail est d'etudier une nouvelle approche de conception et d'integration des detecteurs de defauts en ligne pour les systemes digitaux lineaires. La methode proposee de detection concurrente (en ligne) de fautes est basee sur l'exploitation de la redondance analytique decrivant les relations entre les histoires des signaux d'entrees et de sorties du systeme sous test. Les algorithmes developpes garantissent aussi une detection robuste de fautes, c'est-a-dire une sensibilite maximale aux fautes et minimale au bruit (le bruit genere a l'interieur d'un systeme n'est pas considere comme fautes et doit etre tolere). Le circuit de test concurrent, calculant la relation de la redondance, d'un systeme digital lineaire sert comme indicateur d'erreur (fautes) car sa sortie est zero en l'absence de fautes et differente de zero en presence de fautes. Les circuits robustes et optimaux supplementaires requis pour l'implementation des testeurs (circuits de test) en ligne restent tres raisonnables en taille. A l'inverse des autres techniques de test traitant des cas specifiques des systemes et posant des conditions sur les conceptions a tester, la methode proposee est generale et applicable a tout systeme digital pourvu qu'il soit lineaire. Les parametres ainsi que la description vhdl du circuit robuste et optimal de test, pour chaque systeme digital lineaire, peuvent etre generes automatiquement par un outil dedie developpe au courant de la these. La generation se fait soit a partir de la description vhdl du systeme a tester soit a partir des parametres du systeme fournis directement a l'outil.