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DP  - 
		http://www.theses.fr/2000REN10160
TI  - Stabilité de différentes structures de silicium
AU  - Rahal, Abla
A3  - Mohammed-Brahim, Tayeb; Aoucher, Moussa
PY  - 2000
SP  - 1 vol. (103 p.)
N1  - Thèse de doctorat Électronique Rennes 1 2000
N1  - 2000REN10160
ER  -