Techniques de test pour circuits à courants commutés

• Auteur / Autrice : Jean-Charles Bodin
• Direction : Yves Bertrand
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Électronique, optronique et systèmes
• Date : Soutenance en 1999
• Etablissement(s) : Montpellier 2

Mots clés

Mots clés contrôlés

Courants continus

Fiabilité

Essais

Circuits intégrés

Résumé

Depuis quelques annees, la technique des courants commutes suscite un interet grandissant dans le domaine de l'electronique analogique. Le developpement d'architectures de circuits de plus en plus complexes a, peu a peu, pousse a la creation d'outils de simulation et de dimensionnement permettant de concevoir ces circuits. Il devient donc important de developper des techniques de test afin de pouvoir garantir leur bonne fonctionnalite. Les circuits a courants commutes sont composes de cellules memoires de courants interconnectees. Durant notre etude, nous nous sommes attaches a la detection de fautes catastrophiques (courts-circuits et circuits ouverts) sur les differents transistors qui composent ces cellules. Dans un premier temps nous avons mis en evidence l'efficacite d'un test en courant continu (test dc) sur des cellules isolees. La deuxieme etape de notre travail a consiste a proposer des techniques de dft (design for testability) dans le but de faciliter le test de circuits complets. Le principe de ces techniques est base sur la reconfiguration des circuits pendant la phase de test sans aucune modification du chemin de donnees analogiques, permettant ainsi de garantir les performances du circuit en mode de fonctionnement normal. Nous avons enfin etendu ces methodes dans une optique de test integre dans le double but de rendre le circuit autonome durant la phase de test et de diminuer le cout des infrastructures de test utilisees. L'application de ces techniques de test integre a finalement ete validee et implantee sur un modulateur sigma-delta du second ordre.