Test des circuits configurables de type FPGA à base de SRAM

• Auteur / Autrice : Jean-Michel Portal
• Direction : Michel Renovell
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Électronique, optronique et systèmes
• Date : Soutenance en 1999
• Etablissement(s) : Montpellier 2

Mots clés

Mots clés contrôlés

Circuits intégrés à très grande échelle

Résumé

Cette these propose une strategie de test originale dediee aux circuits configurables de type fpga a base de sram. Apres une presentation de l'architecture de ces circuits et un etat de l'art dans le domaine du test des circuits configurables, une strategie generale de test structurel de ces circuits est proposee. Elle est basee sur un partitionnement de ces circuits en composante de nature homogene et sur la mise en place d'une approche de test ascendante. Ce processus de test prend en compte l'optimisation du nombre de configurations de test ainsi que la nature iterative de ce type de circuit. Dans un premier temps, ce processus est applique a la composante logique avec la mise en place de methodes systematiques permettant de generer un minimum de configuration de test garantissant pour un modele de faute donne, les conditions de test : des modules configurables, d'une cellule independante et d'un tableau de cellules. Ce processus est ensuite applique aux interconnexions globales aussi bien que locales avec la mise en place de methodes systematiques. Dans une troisieme partie, le test des cellules memoires de configuration est realise en adaptant des strategies classiques de test des memoires. Enfin, la validation de ces methodes est effectuee pour deux familles de fpga actuellement commercialisees : la famille xc4000 de xilinx et orca de lucent technologies. Les resultats obtenus avec ces methodes montrent une nette diminution du temps de test compares aux solutions basees sur des approches intuitives.