Ellipsométrie spectroscopique conventionnelle et généralisée de films moléculaires ultraminces : bases théoriques et instrumentales, application à l'étude de films Langmuir-Blodgett et de films autosupportés

Conventional and generalized spectroscopic ellipsometry of ultrathin molecular films : theoretical and experimental bases, application to the study of langmuir-blodgett films and self-supported films

• Auteur / Autrice : Boris Lecourt
• Direction : Jean-Marie Turlet
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Instrumentation et mesures
• Date : Soutenance en 1998
• Etablissement(s) : Bordeaux 1

Mots clés

Mots clés contrôlés

Ellipsométrie

Langmuir-Blodgett, Couches de

Résumé

Cette these est consacree au developpement et a l'application de methodes d'ellipsometrie conventionnelle et generalisee pour l'etude de films moleculaires ultraminces. Dans la premiere partie sont exposes les bases de l'ellipsometrie et en particulier les problemes de modelisation et d'inversion des donnees experimentales. La deuxieme partie est dediee aux techniques instrumentales de mesures realisees sur un ellipsometre a polariseur tournant (gesp5) de la societe sopra. La troisieme partie est consacree a la determination des constantes optiques de films autosupportes ultraminces de surfactant et de cristaux liquides par ellipsometrie en transmission et reflectometrie autour de l'angle de brewster. Enfin, les deux derniers chapitres decrivent une methode specifique d'ellipsometrie generalisee pour la determination de faibles anisotropies dans le plan et l'application de cette methode a l'etude de films langmuir-blodgett.