Thèse soutenue

Caractérisation et modélisation du comportement fréquentiel de structures à géométrie fractale

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Auteur / Autrice : Emmanuel Troncet
Direction : Guy Ablart
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Électronique. Matériaux
Date : Soutenance en 1997
Etablissement(s) : Toulouse 3

Résumé

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Dans la presente these sont rapportes les resultats de mesures d'impedances effectuees sur deux categories de materiaux a geometrie fractale. La premiere approche concerne des structures metalliques fractales realisees en circuits imprimes, et soumises a un champ electromagnetique. Un banc de mesure en espace libre assure la caracterisation de l'impedance de surface de ces echantillons dans le domaine des micro-ondes. La seconde approche porte sur l'etude de l'impedance d'entree de composants micro-electroniques a structure fractale. Issus d'une technologie mos, ces echantillons reagissent d'une facon inhabituelle a une excitation electrique en regime alternatif. Dans le but d'analyser et d'expliquer les comportements originaux observes, une modelisation est proposee pour chacune des deux configurations experimentales. La premiere fait appel aux equations de maxwell classiques et a la diffraction de fresnel, tandis que la seconde releve d'une description, sous forme de matrices, de circuits electriques equivalents constitues de reseaux de cellules r#sc#pr#p. L'interet des methodologies developpees reside dans leur adaptation a tous types de motifs fractals. Parmi les resultats les plus saillants figurent : ? la determination graphique de la dimension fractale d'une structure a partir de la simulation micro-onde. ? l'existence d'un comportement a angle de phase constant au niveau de l'impedance d'entree des circuits micro-electroniques, et la preuve que ce comportement est etroitement lie au degre de fractalite de la structure. ? la mise en evidence, concernant les circuits micro-electroniques, d'une correlation entre la dimension spectrale d'un echantillon et la pente fractale du module de son impedance d'entree.