Methodes et systemes laser pour l'analyse du trajet optique interne du tres grand telescope interferometrique europeen, vlti

Methods and laser systems for the analysis of the internal optical path for the european very large telescope interferometer, vlti

• Auteur / Autrice : SAMUEL LEVEQUE
• Direction : Patrick Meyrueis
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Terre, océan, espace
• Date : Soutenance en 1997
• Etablissement(s) : Université Louis Pasteur (Strasbourg) (1971-2008)

Résumé

A l'aube du siecle prochain, le tres grand telescope interferometrique europeen (vlti), combinera de maniere coherente plusieurs telescopes de huit metres de diametre, separes par une base de plus de cent metres. L'etude presentee dans ce memoire porte sur l'analyse des differences de trajets optiques internes d'un interferometre de grande echelle dans lequel les faisceaux optiques se propagent dans l'air. Des methodes et des systemes laser appliques au vlti sont concus pour assurer a la fois une acquisition rapide et reproductible des franges d'interferences et pour reduire la perte de contraste introduites par les variations chemin optique interne. Dans un premier chapitre, nous presentons les principes de l'interferometrie optique a longue base ainsi que ses implications techniques et ses contraintes operationnelles. Nous montrons la necessite d'une analyse specifique du trajet optique interne dans le contexte du vlti et de ses specificites. Dans un deuxieme chapitre, nous modelisons les differences systematiques de trajet optique introduits de par la geometrie d'un tel interferometre et la dispersion de l'air. Nous proposons des methodes de compensation que nous validons par simulation. Le troisieme chapitre analyse les variations dynamiques de chemin optiques a l'interieur du vlti. Dans une premiere partie, une analyse theorique nous permet d'evaluer les effets de la turbulence interne sur les performances du vlti. La validite des modeles utilises est confrontee a des donnees experimentales. Puis nous identifions le besoin de systemes de metrologie afin de mieux controler le chemin optique interne. Les concepts proposes sont valides par le biais de simulations et du developpement d'un prototype.