Conception de circuits intégrés mixtes sous contrainte de testabilité et proposition d'une méthodologie

Mixed integrated circuits design under testability constraint and proposition of a methodology

• Auteur / Autrice : Corinne Daujan
• Direction : Jean-Paul Dom
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Électronique
• Date : Soutenance en 1997
• Etablissement(s) : Bordeaux 1

Résumé

Le developpement de la microelectronique a ete considerable depuis ces dix dernieres annees. Il se traduit par des tailles de composants en constante diminution offrant des possibilites d'integration, pour les circuits integres, a tres grande echelle. Cette evolution a eu lieu conjointement avec, entre autre, le developpement de nouveaux logiciels de cao, et de methodes de simulation de fautes destinees a anticiper les consequences des defauts de process et faciliter ainsi l'interpretation de certains resultats dans la phase de test du circuit. Ces methodes, tres au point dans le domaine digital, ont pris un certain retard dans le domaine de l'analogique du a la complexite de celui-ci. Ce manuscrit a pour but de proposer une methode de simulation de fautes et d'isolation de fautes pour les circuits integres analogiques et mixtes, bases sur la technique du dictionnaire de fautes. Elle est entierement automatisable car nous avons choisi de traiter les donnees de facon binaire. Son application sur des circuits concrets, prealablement concus pour des applications specifiques, a permis de determiner les avantages ainsi que les limites de cette methode.