Structure electronique de chalcogenures, etudiee par spectroscopies de photoelectrons et d'emission x

Electronic structure of chalcogenides studies by x-ray photoemission spectroscopy and x-ray emission spectroscopy

• Auteur / Autrice : SEVERINE DUPONT
• Direction : Christiane Sénémaud
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Physique
• Date : Soutenance en 1996
• Etablissement(s) : Paris 6

Résumé

Dans cette these, nous etudions l'evolution de l'environnement chimique local et la structure electronique de composes chalcogenures synthetises dans le systeme sb#2s#3-tl#2s en utilisant deux techniques complementaires, la spectroscopie d'emission x (xes) et la spectroscopie de photoelectrons induits par rayonnement x (xps). Par spectroscopie de photoemission x, les distributions electroniques des niveaux profonds des atomes presents dans chaque echantillon sont analysees en fonction de la proportion en tl#2s dans le materiau etudie. Nous pouvons ainsi determiner l'influence du thallium sur l'environnement du soufre et de l'antimoine. Les spectres d'emission x ont ete obtenus au lure par fluorescence x en utilisant le rayonnement synchrotron delivre par l'anneau de stockage super aco ; ils donnent la distribution des etats de valence s 3p. Par comparaison des spectres xps et xes, nous precisons la contribution des etats s 3p a la bande de valence et nous etudions la modification des distributions des etats de valence en fonction de la proportion en tl#2s. Dans la discussion, nous nous appuyons sur des calculs de densite d'etats effectues en methode des liaisons fortes