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Thèse soutenue

Contribution au test des pannes temporelles : diagnostic et génération de vecteurs de test orientée diagnostic

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Auteur / Autrice : Béatrice Rodriguez
Direction : Serge Pravossoudovitch
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Informatique, automatique et traitement su signal
Date : Soutenance en 1996
Etablissement(s) : Montpellier 2

Résumé

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Cette these s'inscrit dans le cadre du test de pannes temporelles et concerne plus particulierement le diagnostic. Les pannes temporlles, ou fautes de delai, modelisent des defauts physiques (fabrication) ou des defauts de conception qui perturbent le fonctionnement normal d'un circuit a haute frequence uniquement. Nous proposons une methode de diagnostic dediee aux pannes temporelles pour traiter les circuits sequentiels synchrones. Cette approche represente une alternative a la simulation de fautes et repose sur une simulation multi-valuee et un trace de chemins critiques. Elle permet d'obtenir, par regroupement des chemins traces, une localisation approchee du site de la panne. Les resultats obtenus avec les circuits de reference iscas'89 ont valide l'efficacite de cette methode. La precision du diagnostic depend de la sequence de test. Il est possible d'ameliorer cette precision en generant des vecteurs de test en vue du diagnostic. Compte tenu des limitations des techniques deterministes (temps d'execution prohibitifs) et aleatoires (aucun controle de la creation des vecteurs de test), nous proposons une methode de generation de vecteurs de test orientee diagnostic basee sur les algorithmes genetiques. Cette approche permet d'obtenir, a partir d'une sequence de test initiale aleatoire, des vecteurs de test qui presentent de bonnes aptitudes a distinguer des fautes de delai les unes des autres, sans augmenter la longueur de test. Les resultats obtenus avec les circuits de reference iscas'85 ont permis de valider l'efficacite de cette approche par rapport aux techniques deterministes et/ou aleatoires