Contribution à la détection non destructive par micro-ondes des discontinuités dans les matériaux

Contribution to microwave non destructive detection of discontinuities in materials

• Auteur / Autrice : Boufeldja Abboud
• Direction : Jean-Pierre Pellissier
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Sciences. Physique électronique. Hyperfréquences
• Date : Soutenance en 1996
• Etablissement(s) : Lyon 1
• Jury : Examinateurs / Examinatrices : Jean-Pierre Pellissier

Mots clés

Mots clés contrôlés

Réflexion (optique)

Micro-ondes

Détection de défaut (ingénierie)

Spectroscopie de réflectance

Résumé

Ce travail concerne l'etude d'une technique micro-onde non destructive pour la detection des discontinuites dans les materiaux dielectriques simples ou composites. Cette methode utilise un reflectometre monte sur un guide d'ondes rectangulaire en bande x. Elle repose sur l'analyse, dynamique et dans le plan complexe, des signatures representatives des defectuosites situees au sein d'un solide. Le premier chapitre est consacre a l'etude de la reflexion par les materiaux dielectriques et metalliques. Au deuxieme chapitre, sont traites les systemes de detection utilisant la reflectometrie, pour localiser les inhomogeneites dans les materiaux. On donne le principe de fonctionnement de chaque systeme et on definit les limites de son application. On decrit, au chapitre 3, le principe de fonctionnement du dispositif temporel compact concu et realise, pouvant operer d'une facon autonome sur site. On detaille ensuite l'etude et la realisation de divers emetteur-recepteurs permettant le balayage de la surface accessible du materiau teste. La derniere partie porte sur la modelisation de la ser de la defectuosite par une methode simple reposant sur la subdivision de celle-ci en cellules surfaciques elementaires. Plusieurs tests experimentaux ont ete effectues sur des defauts types usines sur du plexiglas, des fissures realisees sur de l'aluminium et du fer ainsi que des inhomogeneites dans du beton ; ceci pour valider la fiabilite de l'appareil et conforter les resultats de la simulation