Etude des systèmes de couches minces métalliques Au/Co/Au/MoS2 et Fe/Si par effet Kerr magnéto-optique et microscopie en champ proche

A study of the au/co/au/mos#2 and fe/si thin layer systems using smoke and near field microscopy

• Auteur / Autrice : Marc-Daniel Ortega
• Direction : M. GOIRAU
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Physique de la matière
• Date : Soutenance en 1996
• Etablissement(s) : Toulouse, INSA

Mots clés

Mots clés contrôlés

Cobalt -- Couches minces

Couches minces métalliques

Kerr, Effet

Résumé

Nous avons etudie les proprietes structurales et magnetiques des systemes de couches ultraminces au/co/au/mos#2, et de couches minces de fe/si, dans l'objectif d'etablir un lien entre les conditions d'elaboration de ces echantillons et leurs proprietes magnetiques. Nous avons modifie les conditions d'elaboration des couches tampon d'or des systemes or/cobalt, en conservant les memes conditions de depot pour les autres couches. Les proprietes structurales de ces systemes ont ete mesurees par del et microscopie en champ proche, et leur propriete magnetique d'anisotropie perpendiculaire a ete etudiee par effet kerr magneto-optique. Nous avons determine la constante d'anisotropie de nos systemes en ajustant le modele de rotation coherente de stoner et wolhfarth aux cycles d'aimantation. Cette etude nous a permis de montrer que la constante d'anisotropie effective dependait de la vitesse de depot et des conditions de recuit de la couche tampon, facteurs determinants pour la qualite cristalline et la topographie des echantillons. Nous avons constate, pour des systemes elabores dans des conditions de depot differentes, que le recuit conduisait a des structures de proprietes magnetiques voisines, donnant ainsi la possibilite d'augmenter dans certains cas l'anisotropie. Nous avons aussi realise des mesures d'aimantation transverse et longitudinale par effet kerr magneto-optique sur des systemes de couches minces de fer deposees sur silicium par pulverisation cathodique. Ces mesures ont montre l'existence d'une faible anisotropie dans le plan, liee aux conditions de depot qui sont a l'origine d'une structure polycristalline. L'analyse par un modele dynamique des cycles d'aimantation longitudinale, et l'allure des cycles d'aimantation transverse ont mis en evidence un processus de retournement de l'aimantation par saut de parois pour des taux de variation de champ inferieurs a 50koe/s, et s'effectuant en regime visqueux au-dela. Cette etude a souligne en particulier l'interet d'associer systematiquement mesure d'aimantation transverse et mesure d'aimantation longitudinale