Contribution à la simulation en conception des effets des porteurs chauds sur la fiabilité des circuits analogiques CMOS

A contribution to the design-level simulation of the hot carriers impact ont he analog cmos circuits reliability

• Auteur / Autrice : Bernard Bordonado
• Direction : J.-L. NOULLET
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Conception de circuits microélectroniques et microsystèmes
• Date : Soutenance en 1996
• Etablissement(s) : Toulouse, INSA

Mots clés

Mots clés contrôlés

Porteurs chauds

Oscillateurs

MOS complémentaires

Mots clés libres

Sciences appliquees

Résumé

Cette etude est consacree au developpement d'un nouveau flux de simulation pour ameliorer des la phase de conception la fiabilite aux effets des porteurs chauds des circuits analogiques cmos, et ce independamment des specificites de la technologie utilisee. La methode proposee d'amelioration qualitative avant fonderie de la fiabilite aux porteurs chauds repose sur la possibilite de simuler la duree de vie d'un circuit fonctionnel complexe a partir de donnees de vieillissement extraites sur des structures de test fondamentales. Cette nouvelle methodologie englobe et etend les connaissances deja acquises sur le sujet dans le domaine des circuits numeriques. Une etude theorique et experimentale approfondie a ete menee sur des oscillateurs en anneaux et des amplificateurs operationnels, circuits elementaires de l'electronique analogique. Plusieurs prototypes de complexites et de fonctionnalites diverses ont ete concus, realises, testes, vieillis electriquement et simules pour le developpement et la validation de ce flux