Thèse soutenue

Propriétés semi-conductrices de films passifs sur aciers inoxydables formés en milieu chlorure : caractérisation par spectroscopie d'impédance électrochimique, photoélectrochimie et microscopie photoélectrochimique

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Auteur / Autrice : Laurent Antoni
Direction : Jean-Pierre Petit
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Sciences et Génie des matériaux
Date : Soutenance en 1996
Etablissement(s) : Grenoble INPG

Résumé

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Les phenomenes de corrosion localisee des aciers inoxydables sont unes de leurs limites d'emploi, notamment dans les milieux chlorures neutres, ou acides, ou ils resistent par ailleurs a la corrosion generalisee. La comprehension des mecanismes de piquration constitue donc une etape importante dans l'optimisation des proprietes d'usage des aciers inoxydables. Le travail presente s'interesse aux liens entre les proprietes semi-conductrices plus ou moins marquees des films passifs sur aciers inoxydables et leur resistance a la corrosion par piquration. Diverses techniques, principalement electrochimiques, ont ete utilisees: spectroscopie d'impedance, photoelectrochimie, chronoamperometrie a double echelon de potentiel. L'evolution des proprietes semi-conductrices en fonction des conditions de formation et de caracterisation des films passifs a ete etudiee. Cette evolution est attribuee a une evolution du contenu en hydrogene des films passifs, facteur deja mentionne dans la litterature comme important dans la corrosion par piquration. Par ailleurs, les phenomenes de piquration etant tres localises, une installation de microscopie photoelectrochimique, unique en france a ce jour a notre connaissance, a ete developpee pour examiner les proprietes semi-conductrices des films passifs a l'echelle de quelques microns. Des heterogeneites spatiales dans les proprietes semi-conductrices des films passifs sur acier inoxydables ont effectivement ete mises en evidence et l'etude des images obtenues a permis de mieux comprendre certains resultats de photoelectrochimie macroscopique