Recherche Avancée

Thèse soutenue

Test et diagnostic des cartes et des MCMs partiellement Boundary scan

FR  |  
EN
Auteur / Autrice : Mohamed Hedi Touati
Direction : Meryem Marzouki, Bernard Courtois
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Microélectronique
Date : Soutenance en 1996
Etablissement(s) : Grenoble INPG

Résumé

FR

L'adoption du standard ieee 1149. 1, plus connu sous le label boundary scan (bs) a permis de resoudre une grande partie des problemes poses par les difficultes d'acces aux nuds a tester, en remplacant l'acces mecanique par un acces electronique. Mais actuellement le marche est loin d'etre exclusivement fourni en composants munis de ce standard. Par consequent, on assiste a l'apparition de systemes heterogenes du point de vue de la testabilite, composes de parties bs et d'autres non bs, pour lesquels il faut developper des methodes de test et de diagnostic adaptees. Cette these, qui se place precisement dans ce contexte, a pour objectif de traiter les problemes de test et de diagnostic rencontres dans ce type de systemes. Nous proposons dans le cadre de ce travail une methodologie globale ainsi que son implementation permettant de se rapprocher de cet objectif. Elle permet la generation et l'ordonnancement de sequences de test optimales permettant la detection de fautes a la fois dans les conglomerats de circuits bs et non bs, ainsi que sur leurs interconnexions. Les modeles de collage logique, coupure et court-circuit sont pris en compte. Au niveau du diagnostic, une premiere estimation des candidats a la faute est effectuee a l'aide d'une approche semi-qualitative. Le diagnostic est ensuite raffine a l'aide d'une strategie de recherche des meilleurs nuds a tester, basee sur l'utilisation de la logique floue. Cette methodologie, qui s'applique aussi bien aux cartes qu'aux mcms, a ete implementee sous forme d'un outil interface avec des atpgs commerciaux. Les resultats experimentaux obtenus confirment la validite de l'approche