Thèse soutenue

Relaxation et diffusion des porteurs de charge à courte et à longue distance dans quelques conducteurs ioniques de l'ion fluorure

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Auteur / Autrice : Yong-Jun Xu
Direction : Jean-Maurice Réau
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Chimie du solide. Sciences des matériaux
Date : Soutenance en 1996
Etablissement(s) : Bordeaux 1
Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale des sciences chimiques (Talence, Gironde ; 1991-....)
Partenaire(s) de recherche : Laboratoire : Institut de chimie de la matière condensée de Bordeaux (Pessac)
Jury : Président / Présidente : Paul Hagenmuller
Examinateurs / Examinatrices : Jean-Maurice Réau, Paul Hagenmuller, Bernard Frit, William Granier, Albert-Serge Barrière, Jean Sénégas
Rapporteurs / Rapporteuses : Bernard Frit, William Granier, Albert-Serge Barrière

Résumé

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Les propriétés de transport et de diffusion e l'ion F ont été étudiées au sein de plusieurs séries de matériaux fluorés. La première partie de ce mémoire est consacrée à l'application du modèle des processus de clutérisation établi par J. M. Reau aux solutions solides de structure dérivée du type fluorine et comportant des cations substitutionels tétravalents. Cette étude a montré que ce modèle est un modèle général qui permet 'évaluer la nature et le nombre de porteurs de charge à longue distance en fonction de la composition. Les porteurs de charge dans les solutions solides M1xM''xF2+2x (M = Ca, Sr, Ba Pb ; M'' = Th, U) ont été identifiés ux ions fluorure interstitiels F'' et les processus de clutérisation ont été proposés au sein de ces solutions soles. Les propriétés de transport et de diffusion de l'ion F - dans les phases du système BiF''-NH4F sont l'objet de la seconde partie de ce mémoire. Les phases de l'ammonium comparées aux phases homologues du rubidium compotent une plus grande mobilité de l'ion F- qui a été attribuée à des mouvements assistés de rotation/réorientation des ions NH4+. Cette hypothèse est confirmée par des investigations par RMN des phases du système BiF3-NH4F appliquées successivement aux noyaux 1H et 19F.