Caractérisation par spectroscopie photoélectronique à rayonnement X (XPS) de matériaux amorphes massifs et sous forme de couches minces, utilisables dans des microgénérateurs électrochimiques
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Auteur / Autrice : | Laurent Benoist |
Direction : | Alain Levasseur |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Chimie du solide. Sciences des matériaux |
Date : | Soutenance en 1996 |
Etablissement(s) : | Bordeaux 1 |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : Institut de chimie de la matière condensée de Bordeaux (Pessac) - Laboratoire de chimie du solide (Talence, Gironde1975-1995) |
Jury : | Président / Présidente : Jean Étourneau |
Examinateurs / Examinatrices : Alain Levasseur, Jean Étourneau, Michel Delamar, Michel Ribes, Danielle Gonbeau, Odile Eisenstein, Henry Gasparoux, Geneviève Pfister | |
Rapporteur / Rapporteuse : Michel Delamar, Michel Ribes, Danielle Gonbeau |
Mots clés
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Résumé
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De nouveaux matériaux d'électrode positive, des couches minces TiOySz et MoOySz, ont été analysés par xps. Les caractéristiques intrinsèques de ces matériaux ont été déterminées et les processus rédox mis en jeu lors du cyclage de générateurs expérimentaux ont été précisés. Parallèlement, des études ont été effectuées en XPS sur des matériaux d'électrolyte ((1-x) B2S3-xLi2S et (1-x) As2S3-xLi2S) sur leurs domaines vitreux respectifs ; en utilisant comme sonde principale le pic de coeur S2p, l'influence du modificateur sur le formateur de réseau a été analysée.