Microscopie à projection de Fresnel : étude - conception - premiers résultats

Fresnel projection microscope. Design realisation first results

• Auteur / Autrice : Vincent Semet
• Direction : Binh Vu Thien
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Sciences
• Date : Soutenance en 1995
• Etablissement(s) : Lyon 1
• Jury : Examinateurs / Examinatrices : Binh Vu Thien

Mots clés

Mots clés contrôlés

Diffraction

Appareils et matériel

Microscopie électronique

Résumé

Le principe du microscope a projection de fresnel (mpf) est base sur l'observation, sur un ecran fluorescent, de l'image agrandie d'un objet place dans un faisceau radial d'electrons emis depuis une source a l'echelle de l'atome: la nanopointe. Si le rapport de la distance objet-ecran fluorescent a celle nanopointe-objet est tres grand, le grandissement du mpf peut atteindre 10#6 a 10#7. La realisation du mpf resulte de la maitrise de la fabrication des nanopointes et des deplacements a l'echelle du nanometre utilisant des ceramiques piezo-electriques. Les proprietes specifiques des nanopointes et celles des deplacements realises font que le mpf est un microscope a basse tension et haute resolution. Par suite, les composes fragiles, organiques ou biologiques, ne sont pas alteres par les effets de l'irradiation du faisceau d'electrons. Ce constat presente un interet majeur au regard des microscopes electroniques conventionnels fonctionnant a haute tension. Des objets de dimension nanometrique telles que des fibres de carbone, de polymeres, des molecules d'adn ont ete observes directement sans preparation specifique des echantillons. Suivant l'importance du grandissement, l'analyse des resultats des observations montre, dans une premiere approche, que la diffraction du faisceau d'electrons par un objet est de type fraunhofer ou fresnel. La correlation entre les images observees et les diffractogrammes obtenus par simulation numerique, pour une source ponctuelle, monochromatique et coherente, revele les qualites de la nanopointe