Etude des detecteurs semiconducteurs pour l'analyse spectrale par la methode multienergie en vue des applications en imagerie x dans la plage energetique 20 - 150 kev
Auteur / Autrice : | CECILIA MARGARET MARY FELIX |
Direction : | Jean-Pierre Briand |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Physique |
Date : | Soutenance en 1994 |
Etablissement(s) : | Paris 6 |
Résumé
La methode multienergie est une methode non destructive d'identification de composes chimiques par l'intermediaire de leur fonction d'attenuation des rayons x sur une bande spectrale comprise entre 20 et 150 kev. A cet effet, les mesures de transmission sont effectuees dans plusieurs bandes spectrales, elle-memes creees par deux procedes differents: soit a l'emission (multispectre), soit a la detection (multidetecteur). La methode multispectre requiert un monodetecteur et la methode multidetecteur un empilement de detecteurs de materiaux et d'epaisseurs differents. Les contraintes imposees par l'imagerie et certains avantages des detecteurs semiconducteurs ont conduit a l'etude des detecteurs cdte et cdznte. Cet expose presente l'etude des proprietes physiques et operationnelles intervenant dans l'utilisation des detecteurs cdte et cdznte pour l'imagerie x. Un multidetecteur silicium cdte a ete concu, realise et etudie. En dernier lieu, sont presentes les resultats provenant des methodes multispectre et multidetecteur