Etude du comportement des IGBT dans les convertisseurs en haute fréquence
Auteur / Autrice : | Dominique Ligot |
Direction : | Jean-Pierre Chante |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Electronique |
Date : | Soutenance en 1993 |
Etablissement(s) : | Lyon, INSA |
Ecole(s) doctorale(s) : | École doctorale Électronique, électrotechnique, automatique (Lyon) |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : CETHIL - Centre de Thermique de l'INSA de Lyon (Lyon, INSA1982-1995) |
Mots clés
Résumé
L'IGBT intègre sur un même cristal les structures des transistors MOS et bipolaires et possède les avantages et malheureusement certains inconvénients de ceux-ci. Il semble être le composant actuellement le mieux adapté à la moyenne puissance moyenne fréquence. Une analyse approfondie de son comportement, s'appuyant sur la physique du comportement, nous permet d'expliquer différents phénomènes électriques liés à son utilisation. Grâce à une meilleurs connaissance du composant, nous étudions les pertes de différents IGBT dans certains cas particulier. Nous soulignons l'influence de différents paramètres (électrique, physique, temporel) sur celles-ci afin de proposer suivant l'utilisation des critères de choix parmi les différents composants. Cette étude facilite le choix d'un composant et conduit à une meilleure utilisation de l'IGBT grâce à différents critères proposés.