Thèse soutenue

Etude du comportement des IGBT dans les convertisseurs en haute fréquence

FR  |  
EN
Auteur / Autrice : Dominique Ligot
Direction : Jean-Pierre Chante
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Electronique
Date : Soutenance en 1993
Etablissement(s) : Lyon, INSA
Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale Électronique, électrotechnique, automatique (Lyon)
Partenaire(s) de recherche : Laboratoire : CETHIL - Centre de Thermique de l'INSA de Lyon (Lyon, INSA1982-1995)

Mots clés

FR

Résumé

FR  |  
EN

L'IGBT intègre sur un même cristal les structures des transistors MOS et bipolaires et possède les avantages et malheureusement certains inconvénients de ceux-ci. Il semble être le composant actuellement le mieux adapté à la moyenne puissance moyenne fréquence. Une analyse approfondie de son comportement, s'appuyant sur la physique du comportement, nous permet d'expliquer différents phénomènes électriques liés à son utilisation. Grâce à une meilleurs connaissance du composant, nous étudions les pertes de différents IGBT dans certains cas particulier. Nous soulignons l'influence de différents paramètres (électrique, physique, temporel) sur celles-ci afin de proposer suivant l'utilisation des critères de choix parmi les différents composants. Cette étude facilite le choix d'un composant et conduit à une meilleure utilisation de l'IGBT grâce à différents critères proposés.