Contribution à la caractérisation et à la modélisation des technologies CMOS : étude et conception de microstructures de tests intégrables sur ASIC's

Contribution to CMOS technologies characterization and modeling : study and design of ASIC's portable test microstructures

• Auteur / Autrice : Olivier Rinaudo
• Direction : Jean-Paul Dom
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Électronique
• Date : Soutenance en 1993
• Etablissement(s) : Bordeaux 1

Mots clés

Mots clés contrôlés

Circuits intégrés

Résumé

Cette etude propose un outil global pour la caracterisation des technologies cmos a travers les parametres spice extraits de microstructures de test adaptees. Le developpement des conditions de test et une strategie originale d'optimisation des parametres sont presentes. De plus, une amelioration du modele spice ainsi qu'une nouvelle methode d'extraction des resistances d'acces parasites sont exposees. Enfin, la mesure des parametres s de transistors a permis de caracteriser les performances dynamiques du modele spice ainsi que les proprietes de l'interface (si/sio#2)