Auto-test intégré de PLAs CMOS dynamiques

Built-in self test design for dynamic cmos las

• Auteur / Autrice : Michel Ildevert
• Direction : Gaston Cambon
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Sciences
• Date : Soutenance en 1992
• Etablissement(s) : Montpellier 2

Mots clés

Mots clés contrôlés

Calcul d'erreur

Analyse vectorielle

Modèles mathématiques

Réseaux logiques programmables

MOS complémentaires

Résumé

Le travail presente s'inscrit dans le cadre general de developpement de methodes et d'outils pour l'auto-test integre de circuits digitaux, l'objectif vise etant etant la realisation d'un compilateur de plas cmos dynamiques a auto-test integre, et plus largement d'un outil pour le test de plas cmos dynamiques. Apres avoir presente les methodologies de test existantes pour les plas cmos ou nmos, deux approches de test, le test externe et le test integre, sont envisagees pour les plas cmos dynamiques, toutes deux basees sur de nouveaux modeles de fautes specifiques. La premiere approche consiste en la generation automatique de vecteurs de test a partir d'une formulation analytique. La deuxieme approche combine les nouveaux modeles de fautes avec une technique d'analyse originale pour obtenir de facon entierement automatique un circuit auto-testable. L'integration dans un outil industriel de cao de l'ensemble de ces techniques de test pour plas cmos dynamiques est egalement presentee