Developpement de detecteurs silicium double face a resolution spatiale elevee et lecture projective

Development of high resolution double-sided silicon detectors with projective readout

• Auteur / Autrice : Renato Turchetta
• Direction : Michel Schaeffer
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Physique
• Date : Soutenance en 1991
• Etablissement(s) : Université Louis Pasteur (Strasbourg) (1971-2008)

Résumé

Un nouveau type de detecteurs silicium micropistes double face a couplage capacitif a ete developpe. La separation ohmique entre pistes est obtenue par effet de champ, etudie experimentalement et par simulation. Un prototype avec un pas de 50 microns a ete teste dans un faisceau de particules energetiques, avec un telescope de detecteurs silicium micropistes simple face a couplage capacitif, utilise pour la reconstruction spatiale precise des traces. La resolution spatiale du detecteur double face est d'environ 10 microns sur les deux faces. Une simulation monte carlo basee sur un modele de division de charge dans les detecteurs micropistes a ete developpee. Elle reproduit bien les resultats des tests en faisceau et permet de predire les performances des detecteurs micropistes, simple et double face. Sur la base de ces resultats, la collaboration delphi (lep) se prepare a installer deux couches de ces nouveaux detecteurs double face, afin d'obtenir une reconstruction tridimensionnelle precise des trajectoires des particules chargees issues des collisions electron-positron a haute energie