Simulation du contraste de topographies en rayonnement blanc synchrotron

Simulation of the contrast of synchrotron white beam topographs

• Auteur / Autrice : CARLOS CARVALHO
• Direction : Yves Epelboin
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Physique
• Date : Soutenance en 1990
• Etablissement(s) : Paris 6

Résumé

Nous avons montre theoriquement que l'intensite en un point du film en une topographie au rayonnement blanc synchrotron est la superposition des intensites produites par des points source incoherents situes sur la face d'entree du cristal. Ce mecanisme est le meme que celui du laboratoire, ce qui explique la similitude entre les images de synchrotron et celles en translation. Ceci est du a la taille de la source et a la non-monochromaticite du rayonnement, qui font que la longueur de coherence de celui-ci est negligeable. L'interpretation physique de ce resultat est que la longueur de coherence du rayonnement est negligeable lorsque l'angle sous lequel un point du cristal voit la source est beaucoup plus grand que la largeur du profil de reflexion en ce point. Dans ces conditions le seul effet de la distance cristal-film est une perte de resolution de l'image. Ces conditions ne sont pas remplies par les anneaux a faible emittance, ce qui signifie que les images au synchrotron pourraient alors etre differentes de celles du laboratoire. Nous avons developpe des methodes numeriques plus rapides de calcul du champ diffracte dans le triangle de borrmann. Ces methodes verifient le theoreme de reciprocite. L'usage de celui-ci dans la simulation des topographies en translation permet des reductions importantes du temps de calcul, selon l'echantillonnage de l'image et la precision numerique employes. Il est donc maintenant possible de simuler des images de deformations etendues comme les vibrations piezoelectriques dans le quartz, ou localisees, comme les dislocations, dans tous les cas d'experiences au laboratoire ou au synchrotron