Etude critique de l'analyse des structures fines observées en SEELFS : application au seuil M23 du nickel face (111)

Critical study of seelfs fine structures: application to the m#2#3 edge of the ni(111)

• Auteur / Autrice : Mohammed Rjeb
• Direction : Jacques Lopez
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Sciences. Physique des matériaux
• Date : Soutenance en 1990
• Etablissement(s) : Lyon 1
• Jury : Examinateurs / Examinatrices : Jacques Lopez

Mots clés

Mots clés contrôlés

Surfaces (physique)

Spectrométrie SEXAFS

Nickel

Résumé

Le premier chapitre rappelle les principes du seelfs et ses liens avec l'exafs et le sexafs, ainsi que les difficultes specifiques du traitement des spectres seelfs. Pour la premiere fois, le chapitre ii etablit le veritable lien entre signaux seelfs, acquis en mode derivee premiere ou seconde par rapport a l'energie, et distribution radiale f(r). Le role et l'influence des divers traitements numeriques effectues pour obtenir f(r) sont ensuite analyses en detail. On arrive a la conclusion qu'ils peuvent etre parfaitement maitrises. Dans le chapitre iii la procedure de traitement mise au point est appliquee a deux spectres seelfs associes au seuil m#2#3 de ni(111). On parvient a une fonction r#2f(r) mieux resolue que celles publiees auparavant. Les raisons de la mauvaise qualite des resultats anterieurs sont mises en evidence. Toutefois, la position obtenue pour la premiere couche d'atomes est pres de 1 a en dessous de la position attendue. Cette conclusion, masquee dans les travaux anterieurs par la confusion deliberee entre les fonctions f(r) et r#2. F(r), relance le debat sur la validite de l'approximation qui consiste a utiliser les dephasages des seuils l#2#3 pour interpreter les seuils m#2#3. La maitrise acquise dans le traitement des spectres de type exafs est illustree dans le chapitre iv sur le seuil k de ni(111), observe en sexafs. La fonction f(r) obtenue permet d'identifier les positions des neuf premieres couches, avec un decalage voisin de celui predit par les tables de teo et lee