Génération fonctionnelle du test de circuits a haute densité d’intégration

= Functional test generation of high density integrated circuits

• Auteur / Autrice : Christophe Bianchi
• Direction : Jean-Pierre Chante
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Electronqiue : Dispositifs de l'électronique intégrée
• Date : Soutenance en 1990
• Etablissement(s) : Lyon, INSA
• Partenaire(s) de recherche : Laboratoire : LCPA - Laboratoire de composants de puissance et applications (Lyon, INSA1987-1991)

Mots clés

Mots clés contrôlés

Exploration fonctionnelle

Cartes à mémoire

Sciences -- Méthodologie

Résumé

Ce mémoire de thèse présente une approche innovante dans le domaine de la génération du test de circuits à haute densité d'intégration. Dans le cadre d'un outil de conception de type compilateur de silicium, une méthodologie fonctionnelle de génération du test a été définie, mise en œuvre et validée. Les résultats obtenus prouvent la pertinence de cette méthodologie qui permet d'obtenir des tests efficaces et très adaptés à la validation fonctionnelle de prototypes.

This document describes an innovative approach in the field of test generation for high density integrated circuits. In the framework of a silicon compiler design tool, a functional methodology for test generation has been defined, developped and validated. The results obtained show the pertinenc:yof this methodology that gives efficient test patterns adapted to the functional verification of prototypes.