Évaluation de la qualité et de la fiabilité de condensateurs utilisés dans les circuits microélectroniques

Quality and reliability evaluation of capacitors used in the microelectronic circuits

• Auteur / Autrice : Nanhan Xiong
• Direction : Yves Danto
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Électronique
• Date : Soutenance en 1990
• Etablissement(s) : Bordeaux 1

Résumé

Dans ce travail, sont proposees diverses methodes d'analyse permettant la caracterisation electrique. L'evaluation des parametres technologiques et le diagnostic de defaillances de condensateurs. Dans le cas de condensateurs a oxyde de tantale, les elements d'un schema equivalent, representatif de la technologie, sont determines par analyse frequentielle dans trois differents domaines de frequence. Dans le cas de condensateurs ceramiques, une methode basee sur la relaxation piezoelectrique est developpee. Ces methodes, utilisees avant et apres des series de test de vieillissement accelere, ont permis de degager les parametres de construction et d'utilisation influencant la fiabilite de ces composants