Sur la tenue dielectrique aux temps courts de couches minces de polysiloxane

On the short term dielectric breakdown of polysiloxane thin films

• Auteur / Autrice : AHMED SABA
• Direction : Christian Laurent
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Sciences appliquées
• Date : Soutenance en 1989
• Etablissement(s) : Toulouse 3

Résumé

Le travail presente concerne l'etude du phenomene de rupture dielectrique a court terme dans des couches minces de polysiloxane elaborees par polymerisation en phase gazeuse. L'utilisation de strcutures dites autocicatrisantes metal-polymere-metal permet de collecter un grand nombre de donnees sur le meme echantillon. L'application du modele statistique de weibull generalise a la distribution des tensions de rupture lorsque les echantillons sont soumis a des rampes de tension permet la definition du champ nominal go et du champ de seuil gs. Dans le cas de creneaux de tension, le traitement statistique des temps de retard et l'etude de leur dependance en fonction du champ conduit a la determination du champ de rupture specifique gc. Ces divers criteres (go, gs, gc) ont ete utilises afin d'etudier l'influence de la temperature de recuit des couches sur leur tenue dielectrique. Le point majeur de l'etude concerne la question de l'independance statistique des donnees collectees au cours de l'application d'une sollicitation electrique stationnaire. Dans le cas d'echantillons de polysiloxane et a la temperature ambiante, les claquages ne sont jamais distribues aleatoirement dans le temps. L'auteur a effectivement mis en evidence l'existence d'une population de claquages a caracteristiques particulieres, dite population de points faibles. Les effets de charge d'espace entrainent d'autre part, une diminution de la probabilite de claquages dans le temps. Finalement, l'auteur donne une interpretation sur l'origine du mecanisme de rupture dielectrique des couches minces de polysiloxane qui est d'origine thermique impulsionnel