Contribution a l'etude des processus photographiques par spectrometries raman et de fluorescence

Contribution to the study of the photographic process by raman and fluorescence spectroscopies

• Auteur / Autrice : AGNES DARDENNE
• Direction : Jacques Corset
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Physique
• Date : Soutenance en 1989
• Etablissement(s) : Paris 6

Résumé

Dans le but de mieux comprendre les processus photographiques, nous avons etudie, par spectrometries d'emission et de diffusion raman a tres basse temperature (8 k), des macrocristaux et des microcristaux de bromure d'argent, dopes ou non. Les travaux effectues sur les macrocristaux nous ont permis de localiser, dans la bande interdite du bromure d'argent, les niveaux de pieges a electrons et de pieges a trous. Ces niveaux sont dus a des impuretes extrinseques (pieges a electrons ou a trous), des defauts intrinseques (ion argent intersticiel, piege a electronset vacance d'argent, piege a trous) ou a des agregats d'argent de deux ou trois atomes (pieges a electrons). Sur les microcristaux purs, le meme spectre raman est toujours obtenu apres irradiation, a temperature ambiante, avec un faisceau laser. Ce spectre semble etre caracteristique d'une distribution d'agregats dont les tailles sont comprises entre deux et cinq atomes d'argent. L'etude des microcristaux dopes nous a conduit a proposer des energies de localisation pour les pieges a electrons dans le cas d'une sensibilisation au soufre seul ou associe a l'or. La sensibilisation serait due a l'approfondissement des niveaux de ces pieges. Les atomes de soufre ou d'or ne sont, en effet, pas incorpores dans les agregats formes lors des irradiations